寧波材料所舉辦表面分析技術(shù)學(xué)術(shù)報告會
5月17日下午，寧波材料所測試中心分析測試論壇第四期開講，本次論壇邀請清華大學(xué)高級工程師姚文清、李展平來所進(jìn)行學(xué)術(shù)交流，并分別做了題為“電子能譜技術(shù)與納米材料表征”和“飛行時間二次離子質(zhì)譜（TOP-SIMS）分析技術(shù)及其應(yīng)用”的學(xué)術(shù)報告。
姚文清的報告主要介紹了AES和XPS在納米材料表面研究中的應(yīng)用。俄歇電子能譜主要用于化學(xué)態(tài)分析、失效分析、材料缺陷、催化劑等，有著很高的靈敏度，檢測深度約為3~10原子單層（0.4~5nm），空間分辨率達(dá)5nm。姚老師結(jié)合衛(wèi)星用傳感器失效分析、戰(zhàn)國竹簡-紅色物質(zhì)分析、重慶大足千手觀音-鑒定不同年代包覆金箔受環(huán)境影響分析等實例，讓與會者更清楚地了解了俄歇電子能譜的功能。在報告的后半部分，姚老師介紹了XPS對過渡金屬化合價判斷、紫外輻照作用下的Au/Cu薄膜的電子遷移等。
李展平的報告由介紹了TOF-SIMS的基本原理和技術(shù)特點，以及它在有機(jī)、無機(jī)、生物、醫(yī)學(xué)、電子等各種領(lǐng)域的應(yīng)用。飛行時間二次離子質(zhì)譜（TOP-SIMS）能以極高的靈敏度（ppm~ppb）探測到包括H在內(nèi)的所有元素及化合物信息。TOP-SIM包括有機(jī)質(zhì)譜和無機(jī)質(zhì)譜，是最前沿的表面分析技術(shù)。該儀器能揭示真正表面和近表面原子層的化學(xué)組成，其信息量也遠(yuǎn)遠(yuǎn)超過了簡單的元素分析，可以用于鑒定有機(jī)成分的分子結(jié)構(gòu)。
兩位的報告結(jié)束后，現(xiàn)場與大家進(jìn)行了深入討論，現(xiàn)場交流氣氛熱烈，與會人員受益匪淺。
姚文清報告
李展平報告
【講座人介紹】
姚文清，高級工程師，國家電子能譜中心副主任。一直從事表面化學(xué)分析方法學(xué)研究和分析儀器研制。先后主持或作為骨干承擔(dān)多項科技創(chuàng)新方法專項、國家基金委儀器專項、國家973計劃和863等項目。完成制定儀器分析方法國際標(biāo)準(zhǔn)1項、國家標(biāo)準(zhǔn)12項，國家發(fā)明專利授權(quán)和申請5項，發(fā)表SCI論文90余篇，論著2部。
李展平，2005年在日本東北大學(xué)獲博士學(xué)位，主要從事表面物理及表面分析研究工作等。1986年6月-1991年4月，清華大學(xué)無線電電子學(xué)系助教、助理研究員；1991年6月-2005年12月，赴日本ULVAC-PHI 株式會社表面分析室工作，歷任俄歇電子能譜(AES)、X射線光電子能譜(XPS)、二次離子質(zhì)譜(SIMS)分析實驗室主事(專家)；2006年1月至今被人才引進(jìn)清華大學(xué)分析中心，任高級工程師。目前主要利用AES、XPS、SIMS等表面分析技術(shù)從事固體材料表面分析、結(jié)構(gòu)表征等研究。已發(fā)表學(xué)術(shù)論文三十多篇。
(公共技術(shù)服務(wù)中心/新能源技術(shù)所 苗利靜)