寧波材料所組織“掃描電鏡技術(shù)在材料研究中的應(yīng)用”講座
6月14日，寧波材料所測(cè)試分析技術(shù)論壇第3期開(kāi)講。中國(guó)科學(xué)院上海硅酸鹽所研究員曾毅應(yīng)公共技術(shù)服務(wù)中心的邀請(qǐng)，作了題為“掃描電鏡技術(shù)在材料研究中的應(yīng)用”的學(xué)術(shù)報(bào)告。來(lái)自于公共測(cè)試中心的技術(shù)支撐人員、各事業(yè)部的科研人員和研究生共60多人聆聽(tīng)了此次講座。
曾毅研究員以掃描電鏡能否觀察到樣品的晶粒為切入點(diǎn)，介紹了掃描電鏡利用通道襯度像、背散射電子衍射（EBSD）進(jìn)行晶粒觀察的方法；他結(jié)合理論和實(shí)際操作經(jīng)驗(yàn)，通過(guò)公式推導(dǎo)的方法，指出在追求分辨率的基礎(chǔ)上減小束斑與提升性噪比的矛盾，并提出實(shí)驗(yàn)過(guò)程中如何在信噪比和束斑大小之間尋求平衡點(diǎn)，提升圖像質(zhì)量。在報(bào)告中，曾毅研究員以自己課題組的研究為例，展示了不采用鍍膜方式，而直接利用掃描電鏡低電壓模式對(duì)不導(dǎo)電材料觀察的優(yōu)勢(shì)，闡述了平時(shí)測(cè)試分析過(guò)程中大家所忽視的樣品前處理的重要性。他還舉例講解了掃描電鏡在介孔材料的研究中較透射電鏡在的優(yōu)勢(shì)，以及EBSD在火災(zāi)一次短路和二次短路鑒定的準(zhǔn)確性等內(nèi)容。
通過(guò)曾毅老師深入淺出和豐富實(shí)測(cè)經(jīng)驗(yàn)的介紹與講解，大家對(duì)掃描電鏡技術(shù)在材料研究中的應(yīng)用有了更深的認(rèn)識(shí)，在講座最后的互動(dòng)環(huán)節(jié)中，大家就平時(shí)掃描電鏡測(cè)試中碰到的問(wèn)題與曾毅老師作了深入交流，例如如何消除積碳污染，如何在EBSD測(cè)試中避免偽對(duì)稱(chēng)性問(wèn)題等，與會(huì)者紛紛表示受益非淺。
曾毅是中國(guó)科學(xué)院上海硅酸鹽所研究員，博士生導(dǎo)師，研究所分析測(cè)試中心副主任。他主要從事材料顯微結(jié)構(gòu)-性能-工藝關(guān)系研究。近年來(lái)作為項(xiàng)目負(fù)責(zé)人承擔(dān)了863、科技部國(guó)際合作專(zhuān)項(xiàng)、中科院重點(diǎn)部署項(xiàng)目、上海市民口科技支撐項(xiàng)目、上海市納米專(zhuān)項(xiàng)等多項(xiàng)材料表征技術(shù)相關(guān)研究項(xiàng)目，在國(guó)內(nèi)外學(xué)術(shù)刊物發(fā)表論文近90篇。是全國(guó)納米標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員、全國(guó)微束分析標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)、全國(guó)金屬與非金屬覆蓋層標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)委員，負(fù)責(zé)起草相關(guān)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)5個(gè)。
曾毅報(bào)告會(huì)現(xiàn)場(chǎng)
（公共技術(shù)服務(wù)中心 陳惠鋒）